标准名称：	顶尖座
中标分类：	机械 >> 工艺装备 >> 组合卡具
替代情况：	HB 1651-75 HB 1487～1488-75
发布日期：	1987-04-08
实施日期：	1987-07-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
出版日期：	1900-01-01
页数：	4页

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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Insulated-gatebipolartransistors(IGBTs)
【原文标准名称】:半导体装置.分立器件.绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
【标准号】:BSIEC60747-9-2007
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2007-11-30
【实施或试行日期】:2007-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验收检验;双极;双极晶体管;电路;元件;连接件;测量用连接件;定义;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;限值(数学);作标记;标记;测量;测量技术;特性;合格试验;额定值;整流二极管;基准方法;可靠度;常规检验;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;晶体管;警告符号
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Bipolar;Bipolartransistors;Circuits;Components;Connections;Connectionsformeasurement;Definitions;Dimensioning;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Properties;Qualificationtests;Ratings;Rectifierdiodes;Referencemethods;Reliability;Routinechecktests;Semiconductordevices;Semiconductors;Signs;Specification(approval);Symbols;Testing;Transistors;Warningsymbols
【摘要】:ThispartofIEC60747givesproductspecificstandardsforterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristics,verificationofratingsandmethodsofmeasurementforinsulated—gatebipolartransistors(IGBTs)．
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:60P.;A4
【正文语种】:英语